物理学报
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物理学报  2019, Vol. 68 Issue (22): .      DOI: 10.7498/aps.68.20191631
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二维拓扑绝缘体的扫描隧道显微镜研究
张志模, 张文号, 付英双
华中科技大学物理学院, 武汉 430074
Scanning tunneling microscopy study on two-dimensional topological insulators
Zhang Zhi-Mo, Zhang Wen-Hao, Fu Ying-Shuang
School of Physics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China


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